LÍDERSolución de monitoreo térmico SWIR- Reducción de la pérdida por falla térmica de semiconductores de potencia
Los semiconductores de potencia (como los IGBT y los MOSFET) son componentes centrales deVehículos de nuevas energías, convertidores industriales e inversores fotovoltaicos., y su confiabilidad térmica determina directamente la vida útil y la seguridad de los productos finales. A lo largo de todo el proceso de pruebas de I+D, inspección de producción en masa y aplicación de terminales, los problemas de pérdidas causados por fallas térmicas han afectado a la industria durante mucho tiempo: los métodos tradicionales de detección de contactos (por ejemplo, termopares) rayan y dañan fácilmente los dispositivos con un solo muestreo de un único-punto; Los equipos infrarrojos comunes han retrasado la respuesta, no han podido capturar puntos de acceso transitorios y han provocado que no se detecten riesgos potenciales, lo que en última instancia provoca el desguace de muestras de I+D, retrabajos de producción en masa y reparaciones pos-de terminales.
Dirigida a estos puntos débiles, la solución de LEADIR construye un sistema integral de monitoreo térmico y reducción de pérdidas conCámaras SWIR de onda corta-como núcleo, presentando las ventajas técnicas deSin-contacto, captura completa, alta precisión y estabilidad de grado industrial-, logrando reducir-las pérdidas por fallas térmicas en todo el proceso de semiconductores de potencia.
Solución técnica central
Monitoreo sin-contacto y no-destructivo
No es necesario entrar en contacto con la superficie del chip, lo que evita daños físicos por métodos de detección basados en contacto-como sondas y termopares, adecuados para pruebas de muestras de I+D, inspección de líneas de producción en línea e inspección aleatoria de equipos terminales, lo que reduce pérdidas innecesarias en la fase de detección.
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Visualización en tiempo real-de la distribución térmica-de rango completo
Presenta claramente diferencias de temperatura en áreas clave como el núcleo del chip, la carcasa del empaque y las uniones de soldadura de pines, eliminando por completo los "puntos ciegos de monitoreo" para la concentración de calor y permitiendo la identificación temprana de posibles riesgos de falla térmica.
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Captura precisa de puntos de acceso transitorios
Equipado conAlta velocidad de fotogramas de 200 fpsCon tecnología de imágenes y velocidad de respuesta de nivel de milisegundos-, congela con precisión fenómenos térmicos dinámicos como temperaturas altas de pulso de nivel de milisegundos- (más de 150 grados) y picos térmicos instantáneos durante los procesos de conmutación, eliminando detecciones perdidas de defectos térmicos transitorios de la fuente y bloqueando el desgaste del dispositivo causado por fallas térmicas.
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Análisis de temperatura de alta-precisión
con unresolución de temperatura de ±2 grados, puede distinguir con precisión pequeños gradientes de temperatura, proporcionando soporte de datos para la optimización de la estructura de disipación de calor del chip, el ajuste de los parámetros del proceso de producción y la evaluación de la confiabilidad del producto, reduciendo la probabilidad de falla térmica en las fases de diseño y producción.
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Adaptación industrial-estable
La cámara SWIR presenta un diseño de bajo consumo de energía (menos o igual a 9 W) para una fácil integración en bancos de pruebas de producción en masa.Compatibilidad de voltaje amplio de 10V-30Vpara combinar sistemas de suministro de energía de diferentes líneas de producción de marcas y un amplio rango de temperaturas de funcionamiento de-40 grados ~ 70 grados, adaptándose a escenarios industriales complejos como altas temperaturas y alta humedad para garantizar la estabilidad del monitoreo.
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Valor de reducción de pérdidas de clientes principales
Reducción de pérdidas en la fase de I+D
Evita eficazmente el desechado de muestras causado por daños en la detección y fallas térmicas, lo que reduce significativamente la tasa de pérdida de muestras de I+D y ahorra una gran cantidad de costos de materiales de I+D cada año; Optimizar el diseño del producto con datos térmicos precisos para acortar en gran medida el ciclo de I+D.
Reducción de pérdidas en la fase de producción en masa
Detección eficiente de dispositivos defectuosos con distribución térmica desigual en línea, reduciendo significativamente la tasa de retrabajo de producción en masa, reduciendo los costos de retrabajo para una sola línea de producción cada año y mejorando la eficiencia de producción y la utilización de la capacidad.
Terminal después de-reducción de pérdidas en la fase de ventas
Mejorar la confiabilidad del producto mediante-monitoreo térmico completo del proceso, reduciendo drásticamente la tasa de reparación de fallas térmicas de los productos terminales y reduciendo varias pérdidas relacionadas con la compensación postventa, el mantenimiento y la reputación de la marca cada año.
Valor comercial-a largo plazo
Reducir considerablemente los costos anuales por pérdidas integrales de los clientes después de la implementación de la solución, con notables ahorros de costos anuales acumulativos; ayudar a los clientes a mejorar constantemente las tasas de recompra e ingresar con éxito a la gama alta-Nuevas energías, control industrial e inversor fotovoltaico.Mercados con calidad estable del producto.
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